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2026年度
【国内学会 Domestic Conference】
[1]三島有二,斉藤元明,戸野倉賢一,藤井麻樹子,津越敬寿,
"市販GCMS装置に取付け可能な分子イオン計測用IAイオン源の開発:ダイレクトMS用オートサンプラの機能試作検討@",
日本分析化学会第86回分析化学討論会,
久留米シティプラザ,(2026.5.31)(poster)

[2] 藤井麻樹子,大山柳威,三島有二,津越敬寿,
"亜臨界流体を用いた選択的化学分解プロセスに対する定量的アプローチ",
日本分析化学会第86回分析化学討論会,
久留米シティプラザ,(2026.5.31)(poster)

[3]新井貴久, 三島有二, 藤井麻樹子,
"亜臨界分解とソフトイオン化質量分析を組み合わせた機能性樹脂の精密化学構造解析",
日本質量分析学会第74回質量分析総合討論会,
パシフィコ横浜会議センター,(2026.6.10)(poster)

[4]佐藤亮,石川明薫, 三島有二, 藤井麻樹子,
"揮発性化合物のスクリーニング分析のための封止セル法の検討",
日本質量分析学会第74回質量分析総合討論会,
パシフィコ横浜会議センター,(2026.6.11)(poster)

[5]三島有二,斉藤元明,戸野倉賢一,藤井麻樹子,津越敬寿,
"GC-MS用新規オプションユニットの開発:分子イオン計測用IAイオン源ユニット",
日本質量分析学会第74回質量分析総合討論会,
パシフィコ横浜会議センター,(2026.6.11)(poster)

2025年度
【国内学会 Domestic Conference】
[1]松藤詩絵瑠,三島有二,藤井麻樹子,
"抽出脂質を用いたDIP-IA/MSの生体試料分析への適用性の評価",
日本分析化学会第85回分析化学討論会,
愛媛大学城北キャンパス,(2025.5.31)(poster)

[2] 藤井麻樹子,丹羽萌寧,三島有二,津越敬寿,
"亜臨界アルコールを用いた臭素系難燃剤の選択的分解とソフトイオン化質量分析による化学構造解析",
日本分析化学会第85回分析化学討論会,
愛媛大学城北キャンパス,(2025.6.1)(poster)

[3] 三島有二,斎藤元明,藤井麻樹子,津越敬寿,
"市販GC-MS 装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開:GC-IA(TOF)イオン源",
日本分析化学会第85回分析化学討論会,
愛媛大学城北キャンパス,(2025.6.1)(poster)

[4] 水谷優里,藤井麻樹子,瀬木利夫,松尾二郎,
"Ar-GCIB照射によるmPEG分子の損傷"
MBA技術部会第21回研究会,
東京大学生産技術研究所,(2025.8.21)(poster)

[5] 加藤大智,瀬木利夫,松尾二郎,藤井麻樹子,
"クラスターSIMSにおけるイオンビーム照射効果の定量的評価のためのモデル試料系の検討"
MBA技術部会第21回研究会,
東京大学生産技術研究所,(2025.8.21)(poster)

[6] 三島有二,斉藤元明,藤井麻樹子,津越敬寿
"分子イオン網羅計測の社会実装を目指して:IA/MSシステムの市販GC-MS用アタッチメント開発",
日本分析化学会第74年会,
北海道大学工学部,(2025.9.24)(oral)

[7] 藤井麻樹子,三島有二,津越敬寿,
"亜臨界アルコールを用いたエステル結合の開裂における溶媒種および処理圧力依存性",
日本分析化学会第74年会,
北海道大学工学部,(2025.9.25)(poster)

[8] 三島有二,斉藤元明,戸野倉賢一,藤井麻樹子,津越敬寿,
"市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開:GC-IA(QMS)イオン源",
日本分析化学会第74年会,
北海道大学工学部,(2025.9.25)(poster)

[9] 三島有二,斉藤元明,戸野倉賢一,藤井麻樹子,津越敬寿,
"市販GC-MS装置用アタッチメント:ダイレクトMSとGC/MS分析に対応する分子イオン計測用IAイオン源ユニットの開発",
第30回高分子分析討論会,
明治大学駿河台キャンパス,(2025.11.20)(poster)

[10] 加藤大智,瀬木利夫,松尾二郎,藤井麻樹子,
"Ar-GCIB照射による結合解離の加速電圧依存性"
第73回応用物理学会春季学術講演会,
東京科学大学大岡山キャンパス,(2026.3.15)(oral)

【国際学会 International Conference】
[1] Yuri Mizutani, Makiko Fujii, Toshio Seki and Jiro Matsuo,
"Molecular damage to mPEG molecules by Ar-GCIB sputtering ",
The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-24),
Egret Himeji, Himeji, Hyogo, Japan (2025.6.20)(oral)

【論文 Publication】
[1] Yuri Mizutani, Makiko Fujii, Toshio Seki and Jiro Matsuo,
"Molecular weight dependence of molecular damage to PEG molecules by sputtering with Ar gas cluster ion beam"
Journal of Vacuum Science and Technology B, Volume 43, Issue 4, 044007(2025), DOI: 10.1116/6.0004662

【受賞 Award】
[1] 加藤大智
"MBA技術部会優秀ポスター賞 ",
MBA技術部会第21回研究会,
東京大学生産技術研究所,(2025.8.21)

2024年度
【論文 Publication】
[1] Hayate Yoshizawa, Makiko Fujii, Toshio Seki and Jiro Matsuo,
"Enhancement of secondary ion yield on gas cluster ion beam-secondary ion mass spectrometry with nonaromatic matrices: Dependence on matrix species and molecular weight"
Journal of Vacuum Science and Technology B, Volume 43, Issue 2, 024002(2025), DOI: 10.1116/6.0004062

【国内学会 Domestic Conference】
[1] 三島有二,斎藤元明,藤井麻樹子,津越敬寿,
"ポリイミド樹脂の超臨界メタノール処理サンプル解析へのダイレクト質量分析法の適用",
日本分析化学会第84回分析化学討論会,
京都工芸繊維大学松ヶ崎キャンパス,(2024.5.19)(poster)

[2] 三島有二,斎藤元明,藤井麻樹子,津越敬寿,
"有機化合物の網羅的検出のための GC-MS用オプションユニットの試作開発",
日本分析化学会第73年会,
名古屋工業大学,(2024.9.13)(poster)

[3] 三島有二,斎藤元明,藤井麻樹子,津越敬寿,
"市販GC-MS 用アタッチメントとしてのDIP-IAイオン源ユニットの試作開発",
第29回高分子分析討論会,
愛知県産業労働センター 「ウインクあいち」,(2024.10.31)(poster)

[4] 三島有二,斎藤元明,藤井麻樹子,津越敬寿,
"分子イオン計測を可能にする新規開発装置による石油化学製品のタイプ識別の検討",
第54回石油・石油化学討論会,
広島国際会議場,(2024.11.28)(poster)

[5] 藤井麻樹子
"環境規制対応のための新規スクリーニング分析装置の開発",
日本学術振興会R026先端計測の将来設計委員会第20回研究会,
エッサム神田,(2025.1.23)(oral)

【国際学会 International Conference】
[1] Yuri Mizutani, Moeki Sugimoto, Makiko Fujii, Toshio Seki and Jiro Matsuo,
"Study on the polymer damage by sputtering with Ar gas cluster ion beam",
15th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'24 (ALC'24),
Kunibiki Messe, Matsue, Shimane, Japan (2024.11.19)(poster)

[2] Masataka HIRATA, Yuhi IIHARA, Yuji MISHIMA, and Makiko FUJII,
"Study on a Novel Chemical-Structure Analysis by the Combination of Sub-Critical Fluid Decomposition and Mass Spectrometry ",
15th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'24 (ALC'24),
Kunibiki Messe, Matsue, Shimane, Japan (2024.11.19)(poster)

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